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產(chǎn)品中心

Product Center

低溫探針臺系列

產(chǎn)品簡介

低溫探針臺主要用于電學、磁學、微波、THz、光學等多種測量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場配置

產(chǎn)品型號：
更新時間：2024-11-18
廠商性質：經(jīng)銷商
訪問量：137
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        低溫探針臺主要用于電學、磁學、微波、THz、光學等多種測量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場配置。客戶可以選擇自己搭配測試儀表集成各類測試，也可以選擇我們的整體測試解決方案，如電輸運測試、半導體分析測試、霍爾效應測試、鐵電分析測試，集成光學測試等。



┃ 設備特點


  • ±2.5T磁場，可定制5T磁場

  • 低溫至1.6K，高溫至675K

  • 可測8英寸晶圓樣品

  • 67GHz高頻探針

  • 3 kV 高電壓探針

  • 大溫區(qū)低溫漂探針

  • 真空腔聯(lián)用傳送樣品

  • ＜30 nm低振動適用于顯微光學測量

  • 霍爾效應、鐵電、半導體分析測試選件

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